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基于
机器
视觉系统
的
半
透明
薄膜
缺陷
检测
及
厚度
测量
研究
文摘阅读 151
下载 5
导出题录 22
被引 19
periodical_gdzjg201807010
[
期刊论文
]
陈方涵
赵光宇
蒋仕龙
-
《光电子.激光》
北大核心
CSCD
2018年7期
摘要:
提出了一种
基于
机器
视觉系统
的
薄膜
缺陷
检测
与
厚度
测量
的
方法.该方法通过建立CCD接收到的放置
薄膜
前后的图像灰度与
厚度
之间的关系,利用同样的图像采集硬件和不同的软件分析方法,在保证实现最小
缺陷
0.1 mm×0.1 mm
检测
的
同时,完成单次66 mm×50 mm的大范围
厚度
测量
.在
基于
透射光密度原理进行
厚度
测量
时,为减小
测量
误差,采用标准密度值标定板对系统进行标定,对计算的理论光密度值进行偏移校正.以
机器
视觉
表面
缺陷
表面
检测
厚度
测量
光学密度
在线
检测
在线阅读
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引用
被引:19
下载:5
2.
正文
localchronicleitem_7847136
[
地方志
]
来源:
江苏科技群英志 续
地区:
江苏省
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